Öğr. Gör. OKTAY YILDIRIM


Rektörlük, Rektörlük

Rektörlük


WoS Araştırma Alanları: Tıbbi Laboratuvar Teknolojisi, Bilgisayar Bilimi Yapay Zeka, Bilgisayar Bilimi Yazılım Mühendisliği, Bilgisayar Bilimi Bilgi Sistemleri, Bilgisayar Bilimi Teori ve Yöntem, Matematiksel ve Hesaplamalı Biyoloji


Avesis Araştırma Alanları: Algoritmalar, Yazılım Güvenliği, Bilgisayarla Görme, Uygulama Tabanlı Mimari, Veritabanı ve Veri Yapıları, Yapay Zeka, Bilgisayarda Öğrenme ve Örüntü Tanıma, Bilgisayar Öğrenimi, Otomatik Problem Çözümü, Kuram Kanıtlaması ve Mantıksal Nedenleme, Örüntü Tanıma ve Görüntü İşleme, Sinirsel Ağlar, Yazılım, Biyomedikal Görüntü İşleme, Klinik Robotları


Yayınlardaki İsimler: Yildirim Oktay, Yildirim O.

Metrikler

Yayın

33

Yayın (WoS)

20

Yayın (Scopus)

21

Atıf (WoS)

222

H-İndeks (WoS)

9

Atıf (Scopus)

359

H-İndeks (Scopus)

11

Atıf (Scholar)

10

H-İndeks (Scholar)

2

Atıf (Sobiad)

2

H-İndeks (Sobiad)

1

Atıf (Diğer Toplam)

3

Proje

3

Açık Erişim

1
BM Sürdürülebilir Kalkınma Amaçları

Eğitim Bilgileri

2014 - 2023

2014 - 2023

Doktora

Dokuz Eylül Üniversitesi, Fen Bilimleri Enstitüsü, Bilgisayar Mühendisliği (Dr), Türkiye

2010 - 2014

2010 - 2014

Yüksek Lisans

Ege Üniversitesi, Fen Bilimleri Enstitüsü, Bilgisayar Mühendisliği (Yl) (Tezli), Türkiye

2005 - 2010

2005 - 2010

Lisans

Dokuz Eylül Üniversitesi, Mühendislik Fakültesi, Bilgisayar Mühendisliği Bölümü, Türkiye

Yaptığı Tezler

2014

2014

Yüksek Lisans

Çizge veri tabanlarının incelenmesi ve çizge veri tabanı yaratılması

Ege Üniversitesi, Fen Bilimleri Enstitüsü, Bilgisayar Mühendisliği (Yl) (Tezli)

Yabancı Diller

A1 Başlangıç

A1 Başlangıç

İngilizce

Araştırma Alanları

Algoritmalar

Yazılım Güvenliği

Bilgisayarla Görme

Uygulama Tabanlı Mimari

Veritabanı ve Veri Yapıları

Yapay Zeka, Bilgisayarda Öğrenme ve Örüntü Tanıma

Bilgisayar Öğrenimi

Otomatik Problem Çözümü, Kuram Kanıtlaması ve Mantıksal Nedenleme

Örüntü Tanıma ve Görüntü İşleme

Sinirsel Ağlar

Yazılım

Biyomedikal Görüntü İşleme

Klinik Robotları

Akademik Ünvanlar / Görevler

2013 - Devam Ediyor

2013 - Devam Ediyor

Öğretim Görevlisi

Dokuz Eylül Üniversitesi, Rektörlük

Makaleler

Tümü (14)
SCI-E, SSCI, AHCI (8)
SCI-E, SSCI, AHCI, ESCI (8)
Scopus (8)
TRDizin (3)
Diğer Yayınlar (3)

Hakemli Bilimsel Toplantılarda Yayımlanmış Bildiriler

2022

2022

1. DETERMINATION OF NEONATAL REFERENCE RANGES USING MACHINE LEARNING METHOD

Yıldırım O., Aktaş Ö., Orbatu D., Alkan Özdemir S., Şişman A. R., Sevinç S.

III. Uluslararası Sağlıkta Yapay Zeka Kongresi, İzmir, Türkiye, 11 - 13 Mayıs 2022, ss.55-56, (Tam Metin Bildiri)

2020

2020

2. Yapay Zeka İle Pediatrik Referans Aralıklarının Değerlendirilmesi

SOBAY D., SEVİNÇ S., YILDIRIM O., ORBATU D., ŞİŞMAN A. R.

Uluslararası Sağlıkta Yapay Zeka Kongresi, 16 - 18 Ocak 2020, cilt.30, ss.22-24, (Tam Metin Bildiri)

2020

2020

3. Yapay Zeka Tabanlı Örnek Uygulamanın Geliştirilmesi

YILDIRIM O.

Uluslararası Sağlıkta Yapay Zeka Kongresi 2020 Hazırlık Kampı, İzmir, Türkiye, 16 Ocak 2020

2020

2020

4. Intra-field etch induced overlay penalties

van Haren R., Yildirim O., Mouraille O., van Dijk L., Kumar K., Feurprier Y., et al.

Conference on Advanced Etch Technology for Nanopatterning IX, San-Jose, Kostarika, 25 - 26 Şubat 2020, cilt.11329, (Tam Metin Bildiri) identifier identifier

2019

2019

5. Experimenting with Some Data Mining Techniques to Establish Pediatric Reference Intervals for Clinical Laboratory Tests

DENİZ E., YILDIRIM O., ORBATU D., SOBAY D., ŞİŞMAN A., AYDIN A., et al.

International Conference on Data Science, Machine Learning and Statistics - 2019(DMS-2019), Van, Türkiye, 26 - 29 Haziran 2019, ss.44, (Tam Metin Bildiri)

2019

2019

6. Experimenting With Some Data Mining Techniques to Establish Pediatric Reference Intervals for Clinical Laboratory Tests

ERASLAN D., YILDIRIM O., ORBATU D., Sobay D., Şişman A. R., AYDIN A., et al.

International Conference on Data Science, Machine Learning and Statistics, Van, Türkiye, 26 Haziran 2019, (Özet Bildiri)

2019

2019

7. Predicting Patient Waiting Time in Phlebotomy Units Using a Deep Learning Method

Javadifard H., Sevinc S., YILDIRIM O., Orbatu D., Yasar E., Sisman A.

Innovations in Intelligent Systems and Applications Conference (ASYU), İzmir, Türkiye, 31 Ekim - 02 Kasım 2019, ss.436-439, (Tam Metin Bildiri) identifier identifier

2019

2019

8. System for Planning and Performing Staging of Medical Investigations for Diagnosis

Yasąr E., YILDIRIM O., Miman Y. E., Şişman A., Sevinç S.

3rd World Conference on Technology, Innovation and Entrepreneurship, WOCTINE 2019, İstanbul, Türkiye, 21 - 23 Haziran 2019, cilt.158, ss.420-425, (Tam Metin Bildiri) identifier

2019

2019

9. Internet of Things for the Distributed Generation

YILDIRIM O., Okay M., AKPOLAT A. N., DURSUN E.

Innovations in Intelligent Systems and Applications Conference (ASYU), İzmir, Türkiye, 31 Ekim - 02 Kasım 2019, ss.350-353, (Tam Metin Bildiri) Sürdürülebilir Kalkınma identifier identifier

2018

2018

10. USE OF ARTIFICIAL INTELLIGENCE IN PHLEBOTOMY UNIT

Orbatu D., YILDIRIM O.

III. Türkiye in vitro Diyagnostik (IVD) Sempozyumu Endokrin ve Metabolik Hastalıklar Tanıdan Tedaviye Biyobelirteçler, İzmir, Türkiye, 28 Şubat - 02 Mart 2018, cilt.43, ss.22-29, (Özet Bildiri)

2018

2018

11. Chemically-amplified EUV resists approaching 11 nm half-pitch

Tasdemir Z., Vockenhuber M., Mochi I., Olvera K. G., Meeuwissen M., Yildirim O., et al.

Conference on Extreme Ultraviolet (EUV) Lithography IX, San-Jose, Kostarika, 26 Şubat - 01 Mart 2018, cilt.10583, (Tam Metin Bildiri) identifier identifier

2017

2017

12. Contrast Matching of Line Gratings obtained with NXE3XXX and EUV-Interference Lithography

Tasdemir Z., Mochi I., Olvera K. G., Meeuwissen M., Yildirim O., Custers R., et al.

International Conference on Extreme Ultraviolet Lithography, Monterrey, Meksika, 11 - 14 Eylül 2017, cilt.10450, (Tam Metin Bildiri) identifier identifier

2017

2017

13. Improvements in resist performance towards EUV HVM

Yildirim O., Buitrago E., Hoefnagels R., Meeuwissen M., Wuister S., Rispens S., et al.

Conference on Extreme Ultraviolet (EUV) Lithography VIII, San-Jose, Kostarika, 27 Şubat - 02 Mart 2017, cilt.10143, (Tam Metin Bildiri) identifier identifier

2017

2017

14. State-of-the-art EUV materials and processes for the 7 nm node and beyond

Buitrago E., Meeuwissen M., Yildirim O., Custers R., Hoefnagels R., Rispens G., et al.

Conference on Extreme Ultraviolet (EUV) Lithography VIII, San-Jose, Kostarika, 27 Şubat - 02 Mart 2017, cilt.10143, (Tam Metin Bildiri) identifier identifier

2017

2017

15. Impact of acid statistics on EUV local critical dimension uniformity

Jiang J., De Simone D., Yildirim O., Meeuwissen M., Hoefnagels R., Rispens G., et al.

Conference on Extreme Ultraviolet (EUV) Lithography VIII, San-Jose, Kostarika, 27 Şubat - 02 Mart 2017, cilt.10143, (Tam Metin Bildiri) identifier identifier

2016

2016

16. Challenge toward breakage of RLS trade-off for EUV lithography by Photosensitized Chemically Amplified Resist™ (PSCAR™) with flood exposure

Nagahara S., Carcasi M., Nakagawa H., Buitrago E., Yildirim O., Shiraishi G., et al.

Conference on Extreme Ultraviolet (EUV) Lithography VII, San-Jose, Kostarika, 22 - 25 Şubat 2016, cilt.9776, (Tam Metin Bildiri) identifier identifier

2016

2016

17. Novel high sensitivity EUV photoresist for sub-7 nm node

Nagai T., Nakagawa H., Naruoka T., Tagawa S., Oshima A., Nagahara S., et al.

Conference on Advances in Patterning Materials and Processes XXXIII, San-Jose, Kostarika, 22 - 25 Şubat 2016, cilt.9779, (Tam Metin Bildiri) identifier identifier

2016

2016

18. Sensitivity enhancement of chemically amplified resists and performance study using EUV interference lithography

Buitrago E., Nagahara S., Yildirim O., Nakagawa H., Tagawa S., Meeuwissen M., et al.

Conference on Extreme Ultraviolet (EUV) Lithography VII, San-Jose, Kostarika, 22 - 25 Şubat 2016, cilt.9776, (Tam Metin Bildiri) identifier identifier

2015

2015

19. Evaluation of EUV resist performance using interference lithography

Buitrago E., Yildirim O., Verspaget C., Tsugama N., Hoefnagels R., Rispens G., et al.

Conference on Extreme Ultraviolet (EUV) Lithography VI, San-Jose, Kostarika, 23 - 26 Şubat 2015, cilt.9422, (Tam Metin Bildiri) identifier identifier


Atıflar

Toplam Atıf Sayısı (WOS): 223

h-indeksi (WOS): 9