Aplicaciones de la difracción de rayos X policristalina en el estudio de materiales gemológicos silíceos

Compana J., De La Torre A., HATİPOĞLU M., LE O., Aranda M.

XXXIII Reunión Bienal de la Real Sociedad Española de Química, Valensiya, İspanya, 25 - 28 Temmuz 2011, (Özet Bildiri)

• Yayın Türü: Bildiri / Özet Bildiri
• Basıldığı Şehir: Valensiya
• Basıldığı Ülke: İspanya
• Dokuz Eylül Üniversitesi Adresli: Evet