Aplicaciones de la difracción de rayos X policristalina en el estudio de materiales gemológicos silíceos

Compana J., De La Torre A., HATİPOĞLU M., LE O., Aranda M.

XXXIII Reunión Bienal de la Real Sociedad Española de Química, Valensiya, Spain, 25 - 28 July 2011, (Summary Text)

  • Publication Type: Conference Paper / Summary Text
  • City: Valensiya
  • Country: Spain
  • Dokuz Eylül University Affiliated: Yes