J. Compana Et Al. , "Aplicaciones de la difracción de rayos X policristalina en el estudio de materiales gemológicos silíceos," XXXIII Reunión Bienal de la Real Sociedad Española de Química , Valensiya, Spain, 2011
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Compana, J., De La Torre, A., HATİPOĞLU, M., LE, O., & Aranda, M., (2011). Aplicaciones de la difracción de rayos X policristalina en el estudio de materiales gemológicos silíceos . XXXIII Reunión Bienal de la Real Sociedad Española de Química, Valensiya, Spain
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@conferencepaper{conferencepaper, author={JM Compana Et Al. }, title={Aplicaciones de la difracción de rayos X policristalina en el estudio de materiales gemológicos silíceos}, congress name={XXXIII Reunión Bienal de la Real Sociedad Española de Química}, city={Valensiya}, country={Spain}, year={2011}}