Investigation of Thickness-Dependent Surface Chemistry and Valence Band Structure of RF Magnetron Sputtered TiO2 Thin Films by X-ray Photoelectron Spectroscopy


AKALIN S. A.

7th International Conference on Contemporary Academic Research, Türkiye, 25 - 26 Mart 2026, (Özet Bildiri)

  • Yayın Türü: Bildiri / Özet Bildiri
  • Basıldığı Ülke: Türkiye
  • Dokuz Eylül Üniversitesi Adresli: Evet