Characterization of the Different Thickness of ZnO Thin Films Deposited on Glass Substrate by PLD
International Congress on Semiconductor Materials Devices, ICSMD 2017, Konya, Türkiye, 17 - 19 Ağustos 2017, (Özet Bildiri)
- Yayın Türü: Bildiri / Özet Bildiri
- Basıldığı Şehir: Konya
- Basıldığı Ülke: Türkiye
- Dokuz Eylül Üniversitesi Adresli: Evet