Akademik Veri Yönetim Sistemi
Türkiye Klinikleri Biyoistatistik Dergisi, cilt.14, sa.3, ss.1-10, 2022 (Hakemli Dergi)
ÖZET Amaç: Bir hastalığı saptamak için yapılan çalışmalarda,
salgınların önlenmesi veya ölümcül bir hastalığın saptanması gibi
durumlarda yanlış negatif karar verilmesi (Durum I) veya tedavinin
ciddi yan etkilerinin olduğu ve tedavi maliyetinin yüksek olduğu
hastalıklarda yanlış pozitif karar verilmesi (Durum II) tehlikeli sonuçlara yol açabilir. Bu çalışmada, kritik durumlarda esnek karar
sağlamak için tanı testi için bir güvenlik eşik değeri t kullanılarak
eğri altındaki alanın [area under the curve (AUC)] yeni bir tanımı
önerilmiştir. Test tanısı için alternatif kesme noktası, duyarlılık/özgüllük ve göreli etkinlik açısından bir simülasyon çalışması
ile değerlendirilmiştir. Gereç ve Yöntemler: Durum I için c-t’ye ve
Durum II için c+t’ye kaydırılan kesme noktası c’yi elde etmek için
farklı AUC değerleri kullanılarak bir simülasyon çalışması yapılmıştır. Hasta (X) ve hastalıklı olmayan (Y) için normal dağılım
kullanılmıştır ve optimal kesme değeri Youden Index ve maksimum
etkinlik yöntemleri ile parametrik olarak tahmin edilmiştir. Kaydırma miktarı t elde edilirken, duyarlılık/özgüllük değerinde yüzde
olarak istenen artış veya azalış miktarı olan gama olasılığı dikkate
alınır. Gama 0-1 arasında değer alabilen ve araştırmacı tarafından
belirlenen bir olasılığı ifade eder. Bulgular: Çalışmamızın sonuçları, testin daha az doğru ve düşük AUC değerine sahip olduğu durumlarda, güvenlik eşiği t değeriyle çalışmanın göreli etkinliğinin
önemli ölçüde etkilenmediğini göstermiştir. Sonuç: Bu çalışmada,
önceden tanımlanmış bir gama olasılığı ile belirlenen kaydırma
miktarı t kullanılarak alternatif kesme noktaları elde edilmiştir. Kritik durumlarda, ekstra güvenlik eşiği t kullanılarak, denekler için
gerçek hastalık sınırı ve güvenlik standartlarının belirlenmesi, özellikle ayırt etme gücü düşük testlerde daha toleranslı bir karar sağlayabileceği önerilmektedir.
Anahtar kelimeler: Eğri altında kalan alan; kesme noktası; duyarlılık;
Youden Indeks; maximum etkinlik