Taşınabilir Radyasyon Ölçüm Sistemleri için Mikroişlemci Kontrollü Yüksek Voltaj Kartı Geliştirilmesi
29 th International Physics Congress, 05 Eylül 2012, ss.704, (Tam Metin Bildiri)
- Yayın Türü: Bildiri / Tam Metin Bildiri
- Sayfa Sayıları: ss.704
- Dokuz Eylül Üniversitesi Adresli: Evet